SZT-H型金属质量电阻率测试台
苏州晶格电子有限公司自主研发生产SZT-H型测试台,金属质量电阻率测试台,薄膜方块电阻测试台,导电橡胶片电阻率测试台

产品类别： SZT-H型金属质量电阻率测试台
上架时间： 2013/5/2 16:10:53
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产品详细

一、功能与结构特征概述

基本功能：SZT-H型金属质量电阻率测试台 配以四探针仪器构成成套测试系统，是运用四端子测量原理的专业测量金属箔类（质量）电阻率/方阻的多用途综合测量装置。（以下简称测试台）

基本组成：测试台测试电极组、升降台、支架、连接线缆等部件组成。

配套与兼容：本测试台兼容本公司所有台式四探针测试仪器。本测试台可兼容国内同行绝大多数四探针电阻率/方阻测试仪器。

优势特征：SZT-H质量电阻率测试台符合国标《GB/T 5230-1995》中对金属箔类质量电阻率测试要求，测试电极采用铜质刀架制成，故定位准确、游移率小、接触良好；测试结果由数字表头直接显示。仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、测量简便等特点。

仪器适用于金属薄膜材料厂、半导体薄膜材料厂、橡塑材料厂、电容器厂、科研单位、高等院校等对半导体或金属薄膜材料的方阻、电阻率性能的测试。特别适用于要求快速测量中低方阻及要求结果分选的场合。

二、技术参数(配ST2258A型多功能数字式四探针测试仪)

2.1 测量范围、分辨率（有所配仪器决定）

（1）方阻测试范围*（以配SZT-H测试台为例）

测量膜宽：1mm≤B≤50mm

基本方阻测量值：1.0×10^-6～1.2×10³ Ω/□，分辨率：1.0×10^-7～1.0×10⁰ Ω/□。

具体膜宽w与测量范围关系见图2-1A。

（2）电阻率测试范围（以配SZT-H测试台为例）

（厚度d<10mm,宽w<50mm）

基本电阻率测量值： 1.0×10^-6～ 1.2×10³ Ω*cm，分辨率：1.0×10^-7～ 1.0×10⁰ Ω*cm。

具体截面s与测量范围关系见图2-1B。

2.2 SZT-H测试刀架：

⑴电压刀片间距：150mm±0.2% ，刀刃长60mm

⑵电流刀片间距： 300mm，刀刃长60mm

⑶测试台架外型尺寸：360×200×240（长×宽×高）

三、详情请登陆苏州晶格电子有限公司官方网站http://www.jgdz.com.cn

查看《SZT-H金属质量电阻率测试台技术使用说明书》

四、联系方式：13656225155/0512-80973697 QQ:1064887318 丁先生

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