你现在的位置：首页>>产品中心>>A系列-薄层材料>>导体薄层>>石墨烯薄膜>>A系列-电阻率方阻测试石墨烯薄膜
 |
|||
|
石墨烯薄膜（方阻方块电阻）测试方案
苏州晶格电子有限公司自主研发生产四探针测试仪,方阻测试仪,石墨烯薄膜电阻率测试仪
苏州晶格电子有限公司自主研发生产四探针测试仪,方阻测试仪,石墨烯薄膜电阻率测试仪
产品类别： 石墨烯薄膜
上架时间： 2018/11/29 13:35:14
浏览次数： 17495
上架时间： 2018/11/29 13:35:14
浏览次数： 17495
产品详细
——————石墨烯薄膜测试仪器方案推荐————
※样品特性：
基材表面厚度极薄的薄膜，附着力差，易损伤，样品普遍面积不大。
※测试难点：
苏州晶格薄膜专用测试探头自带弹簧收缩功能，很好的解决了石墨烯薄膜的测试弱点，自主研发的高精准度四探针测试仪和专用型测试台搭配，让样品测试数据更稳定，重复性更好。
※方案要点：
测试探头，首先优选是导电橡胶探针的四探针法。其次是普通薄膜测试探针的四探针法。
测试仪优选低压小电流测试，最好有开路电压限压保护的功能。
整套晶格石墨烯薄膜方阻测试仪器包括：探头、测试台、测试仪。
详情请拨打400-635-7098或在线咨询客服。
| 填写咨询内容: | ||
